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超低硅分析仪
添加时间:2021.01.17
超低硅分析仪

单波长色散X射线荧光光谱仪

超低硅含量分析

汽油在炼制过程中使用了含硅的试剂或催化剂,这些硅化合物在汽车发动机中无法完全燃烧,时间一长硅的沉积物会造成氧气传感器失效等故障,因此硅元素的检测被列入国家标准制定范围之列。

而针对硅元素的检测仪器,主要有ICPXRF两种方法,相比于ICP方法,XRF方法使用方便,无需专业经验人员即可操作使用,MWD XRF更具有高灵敏度以及长期稳定性等特点,是你能够轻松应对超低硅含量分析的利器。

基于单波长激发-波长色散的XRF技术,极大降低X射线散射背景,同时使用大面积双曲面弯晶技术进行波长色散,高选择性的衍射硅元素的Kα射线,提高信号强度,同时降低背景干扰,使得XRF对微量轻元素检测成为可能。

最低检出限LLD0.7ppm

测量范围:0.7ppm--3%

测量时间:60--600

重复性:Sn-10.4ppm2ppm),1ppm10ppm),2.5ppm50ppm

产品特点:

   灵敏:高选择性检测硅元素,检测限达到0.7PPM,是针对硅元素非常灵敏的X射线荧光光谱仪

   稳定:XFS(X-Ray Fixed System)技术,光路工厂精密调谐后,不再产生位移或偏差,保证了仪器的长期稳定性

   快速:单个样品准备时间小于10秒钟;单个样品分析时间最长600秒;开机10分钟内即可测试样品

   经济:单个样品消耗小于5元/样品,无溶剂等消耗

   方便:使用ESP:Easy Sample Prepare装置,使得样品杯与膜成型变得简单;长时间使用无硬件更换;无需经常校正标准曲线

 

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