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超低硅分析仪
添加时间:2021.01.17
超低硅分析仪

能够准确检测汽油中硅含量的单波长色散X射线荧光光谱仪

汽油在炼制过程中使用了含硅的试剂或催化剂,这些硅化合物在汽车发动机中无法完全燃烧,时间一长硅的沉积物会造成氧气传感器失效等故障,因此汽油中硅元素的检测被列入国家标准制定范围之列。

针对硅元素的检测仪器,主要有ICPXRF两种方法,相比于ICP方法,XRF方法使用方便,无需专业经验人员即可操作使用,单波长色散X射线荧光光谱仪(MWD XRF)更具有高灵敏度以及长期稳定性等特点,是轻松应对超低硅含量分析的利器。

依赖高通量双向曲面弯晶核心技术,进一步提升制造工艺,保证光路系统的精密度,真正能够将硅检出限降低到1PPM以内的X射线荧光光谱仪。

比较项

ICP

MWD XRF

原理

电感耦合等离子体发射光谱仪

单波长色散X射线荧光光谱仪

消耗

高纯氩气、吹扫用高纯氮气、矩管,消耗约1000元/天

无需钢瓶气体

样品杯与样品膜,消耗4元/样品

结果准确性

影响因素:气体纯度、燃烧充分性、光栅移动重复性、干扰元素共存谱线

只针对硅元素进行高灵敏度检测,无任何元素谱线干扰

操作方便性

需要有经验的操作人员,对测试数据有解析能力

使用方便,步骤简单,无需经验即可操作,操作者对测量结果无影响

检出限

硅方法检出限~0.15PPM

硅方法检出限~0.6PPM

 

    ICPMWD XRF比较表

测量原理:单波长色散X射线荧光光谱仪

Monochromatic Wavelength Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer(MWD XRF)

符合标准:ASTM D7757

产品特点:

  • 灵敏:高选择性检测硅元素,检测限达到0.6PPM,是针对硅元素非常灵敏的X射线荧光光谱仪

  • 稳定:XFS(X-Ray Fixed System)技术,光路工厂精密调谐后,不再产生位移或偏 差,保证了仪器的长期稳定性。5PPM汽油样品,长期测试RSD值小于7%

  • 快速:单个样品准备时间小于10秒钟;单个样品分析时间最长1000秒;开机10分钟内即可测试样品

  • 经济:单个样品消耗小于4元/样品,无气体、溶剂等消耗

  • 方便:使用ESP:Easy Sample Prepare装置,使得样品杯与膜成型变得简单;长时间使用无硬件更换;无需经常校正标准曲线

性能指标:

  1. 检出限:0.6PPM(异辛烷基体中硅)

  2. 准确度:2PPM±0.6PPM,5PPM±0.8PPM,10PPM±1PPM

  3. 稳定性:5PPM标样连续测试15次,RSD值15%以内

  4.  线性:0、1、2、5、10、50PPM硅标样,线性99.9%以上

  5. 测试时间:500秒—1000

应用领域:

汽油、柴油样品中硅含量分析,炼油企业催化剂中硅含量分析,液体或固体中硅含量分析。